我校擬對一套四探針測量儀公開招標采購，詳細技術要求如下：

    使用目的：為了測量各種薄膜和半導體材料的方塊電阻率、方塊電阻、電導率和電阻ZAO薄膜是一種很好的透明導電薄膜，它的光學特性和電學特性，使它在很多方面都有了廣泛的應用。其導電性能要通過四探針測量儀測量其面電阻確定，透光性可通過分光光度計來測量。由于實驗室和課題組的需要，需要購買一套測量薄膜電阻率和薄膜方塊電阻的設備，即四探針測量儀，下面是一些技術指標：

1） 測量范圍：電阻率：10^-4～10⁵ Ω.cm；  
                   方塊電阻：10^-3～10⁶ Ω/□；
                   電導率：10^-5～10⁴ s/cm；
                   電阻：10^-4～10⁵ Ω；

2）電流量程可在1μA到100mA之間可調；

3）四探針探頭基本指標：間距：1±0.01mm；
                           針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
                           機械游移率：≤0.3%；
                           探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
                           探針壓力：5～16 牛頓(總力)；

4）測量精度：≤±0.5%瀆值±2個字；

5）探針之間的距離：1±0.01mm；

6）數字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差為：0.4-0.5%讀數+0.1%滿度

7）探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；

8）計算機，打印機；

9）測量結果不受氣候條件的影響。

    歡迎有投標意向的廠家或商家，攜帶有關資質證明復印件和招標費用到我校國資處設備科報名。

    報名截止日期：20010年11月11日下午4時

    報名地點：西安工業大學未央校區行政樓501室

    聯系電話：86173142

    聯系人：李老師，陳老師，朱老師

                            西安工業大學國資處

                            2010年11月1日